Интерференция в тонких пленках

При падении пучка света с длиной волны X из вакуума (или воздуха) на тонкую пленку (прозрачную плосконараллельную пластинку) толщиной d (рис. 1.2) интерференционная картина наблюдается как в отраженном, так и в проходящем свете. Рассмотрим более подробно интерференцию в отраженном свете. На рис. 1.2 показан ход лучей. Оптическая разность хода А12 лучей Г и 2’ при наблюдении интерференции в отраженном свете равна

п

где п - абсолютный показатель преломления вещества пленки, а присутствие последнего члена — в (1.16)

Рис. 1.2

2

обусловлено "потерей полуволны" при отражении луча 2 от среды с большим показателем преломления.

На рис. 1.2 видно, что

В соответствии с законом преломления Снеллиуса

откуда

Таким образом, для отраженного света окончательно получаем или

Используя условия (1.9) и (1.10), получаем условия интерференционного максимума 2dyjn2 — sin2 а = (2т — 1)^, или

и интерференционного минимума

для интерференционной картины в отраженном от тонкой пленки свете.

 
Посмотреть оригинал
< Пред   СОДЕРЖАНИЕ   ОРИГИНАЛ     След >