Полная версия

Главная arrow Математика, химия, физика arrow ДИФРАКЦИОННЫЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ

  • Увеличить шрифт
  • Уменьшить шрифт


<<   СОДЕРЖАНИЕ ПОСМОТРЕТЬ ОРИГИНАЛ   >>

Применение синхротронного излучения

Основными областями спектра, в которых наиболее эффективно применяется СИ, являются вакуумная ультрафиолетовая (ВУФ), мягкая рентгеновская и рентгеновская области. Именно в этих областях СИ имеет наибольшее преимущество перед другими источниками. Исследование в области ВУФ и мягкого рентгена дают очень важную информацию для понимания электронной структуры твердого тела. Существенный прогресс в этой области стал возможен благодаря, с одной стороны, применению СИ, с другой, - теоретическим расчетам зонной структуры.

При использовании СИ для исследования конденсированных сред применяются как классические методы исследований, так и методы исследования, возможные только для СИ. К таким методам можно отнести методы, перечисленные ниже.

С поглощением в рентгеновской области связаны и успешно развиваются такие методы исследования как EXAFS - Extended X-ray Absorption Fine Structure (дальняя тонкая структура края поглощения), XANES - X-ray Absorption Near Edge Structure (ближняя тонкая структура края поглощения), XMCD - X-ray Magnetic Circular Dichroism (рентгеновской магнитный круговой дихроизм), XMLD - X-ray Magnetic Linear Dichroism (рентгеновский магнитный линейный дихроизм).

С отражением и рассеянием: DAFS - Diffraction Absorption Fine Structure (дальняя тонкая структура края поглощения), DANES - Diffraction Absorption Near Edge Structure (ближняя тонкая структура края поглощения), Resonant anisotropic X-ray diffraction (резонансная анизотропная рентгеновская дифракция), Magnetic Х-гау scattering (магнитное рассеяние рентгеновских лучей).

Общим для всех этих методов является измерение тех или иных характеристик взаимодействия излучения с веществом в зависимости от энергии фотонов в падающем на вещество излучения.

 
<<   СОДЕРЖАНИЕ ПОСМОТРЕТЬ ОРИГИНАЛ   >>