Полная версия

Главная arrow Математика, химия, физика arrow ДИФРАКЦИОННЫЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ

  • Увеличить шрифт
  • Уменьшить шрифт


<<   СОДЕРЖАНИЕ ПОСМОТРЕТЬ ОРИГИНАЛ   >>

Аппаратура для рентгеновских дифракционных исследований в особых условиях

Рентгеновские дифракционные исследования структуры твердых тел в настоящее время проводятся в широком интервале температур (от .2К до 3000°С) и давлений (от 10_6 тор до 500 кбар). В литературе описано множество различных устройств, обеспечивающих создание необходимых условий рентгеносъемки и позволяющих исследовать как поликрис- таллические образцы, так и монокристаллы [24, 27-29].

Современная аппаратура для рентгеновских исследований структуры твердых тел в особых условиях должна удовлетворять следующим требованиям [24]:

  • 1) конструкция рентгеновского прибора должна обеспечивать получение дифракционной картины достаточно высокого качества;
  • 2) достижение заданного уровня условий (температур и давлений) и переход от одного уровня к другому должны происходить достаточно быстро и легко стабилизироваться с необходимой точностью;
  • 3) достигнутые в приборе температуры и давления должны измеряться достаточно точно и надежно;
  • 4) прохождение всего температурного интервала не должно сопровождаться существенным изменением режима работы прибора, например, сменой охлаждающей жидкости или способа охлаждения.

Практический опыт рентгеновских исследований твердых тел в особых условиях показал нецелесообразность создания универсальных приборов, позволяющих, например, работать во всех температурных режимах. Вместе с тем, в ряде случаев возникает необходимость структурных исследований твердых тел в широком интервале температур, включающем в себя как низкие, так и высокие температуры, и когда переклейка кристалла нежелательна или сопряжена с возможностью повреждения. Одним из возможных компромиссных решений этой проблемы является создание унифицированных устройств для крепления образцов, которые могут быть установлены как в криостат, так и в термостат. Подобное устройства созданы и описаны в литературе [24].

На этом мы закончим краткое рассмотрение аппаратуры для рентгеновских дифракционных исследований, а заинтересовавшегося читателя отправим к ознакомлению с литературой, относящейся к данной главе.

 
<<   СОДЕРЖАНИЕ ПОСМОТРЕТЬ ОРИГИНАЛ   >>