Полная версия

Главная arrow Математика, химия, физика arrow ДИФРАКЦИОННЫЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ

  • Увеличить шрифт
  • Уменьшить шрифт


<<   СОДЕРЖАНИЕ ПОСМОТРЕТЬ ОРИГИНАЛ   >>

Определение симметрии кристаллов но лауэграммам

В главе 3 отмечено, что существуют только 32 кристаллических класса и их отбор из всех возможных точечных групп определяется законами симметрии кристаллов.

Лауэграммы кристаллов различной симметрии

Рис. 11.3. Лауэграммы кристаллов различной симметрии: 2тт (а), 3т (б), 4тт (в), бтт (г).

Симметрию кристаллов можно определить по Лауэ- граммам, однако, с их помощью нельзя различить все 32 класса. Причина заключается в неразличимости рентгеновских отражений от плоскостей (/г|/г2/гз) и (а,/)2й3). Действии- тельно, несмотря на то, что амплитуды этих отражений равны, их фазы будут различны. Рентгеновский эксперимент позволяет измерить только амплитуды рассеяния, поэтому отражения от разных сторон одной и той же кристаллогра-

Кристаллические системы (сингонии)

Исходная точечная группа

Класс

Фриделя

Триклинная

Моноклинная

Орторомбическая

Г ексагональная

Тетрагональная

Кубическая

Табл. 11.1. Преобразование 32-х точечных круп в 11 классов Фриделя при добавлении центра симметрии.

фической плоскости рентгенографически неразличимы. В результате этого по рентгенограммам никогда не удается обнаружить отсутствие центра симметрии в кристалле. Это утверждение известно в рентгеновской кристаллографии как закон Фриделя.

Добавление центра симметрии к 32-м кристаллическим классам сокращает их количество до 11-ти. Эти 11 центросимметричных кристаллических классов называются классами Фриделя, и только эти классы можно определить методом рентгенографии. В таблице 11.1 показано, как преобразуются 32 кристаллических класса при добавлении центра симметрии в 11 классов Фриделя.

На рис. 11.3 приведены некоторые характерные лауэ- граммы, позволяющие непосредственно по снимку выявить наличие в кристалле тех или иных элементов симметрии. Во многих случаях этого оказывается достаточно для однозначного заключения об ориентации исследуемого кристалла.

Возможности метода Лауэ не ограничиваются только определением симметрии кристалла и его ориентации. Он может быть использован для определения структуры кристалла, для изучения диффузного рассеяния и для ряда других задач (см. §2 гл. 8).

 
<<   СОДЕРЖАНИЕ ПОСМОТРЕТЬ ОРИГИНАЛ   >>