Полная версия

Главная arrow Математика, химия, физика arrow ДИФРАКЦИОННЫЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ

  • Увеличить шрифт
  • Уменьшить шрифт


<<   СОДЕРЖАНИЕ ПОСМОТРЕТЬ ОРИГИНАЛ   >>

Определение размеров кристаллитов и областей когерентного рассеяния

Ширина и форма профиля дифракционной линии рентгенограммы поликристалла зависят от величины рассеивающих кристаллитов и размеров областей когерентного рассеяния.

Мы уже знаем, что размеры узлов обратной решетки обратно пропорциональны размеру рассеивающего кристалл- лита в соответствующем направлении (5.40). Размер кристаллита А в направлении нормали к плоскости М/ связан с полушириной размытой дифракционной линии р соотношением

где п - число межплоскостных расстояний с!ш. Формула (11.15) дает усредненную величину А.

Эффект расширения дифракционной линии на дебаеграммах становится заметным, если размеры частиц меньше 103А. Кристаллики размером более 103 А уже могут рассматриваться (в смысле влияния на ширину линий) как бесконечно большие. Нижняя граница размеров лежит в области ~10 А, когда ширина линий рассеяния становится близкой к таковой при дифракции на аморфных веществах.

В формуле (11.15), дающей средний размер кристаллитов и областей когерентного рассеяния, не учитывается распределение кристалликов по размерам. Кроме того, в размытие дифракционной линии на дебаеграммах вносят вклад различные искажения трехмерной периодичности, свойственные реальному кристалллу: микронапряжения, ошибки в наложении слоев и другие, что, по существу, дает некий набор с/ около среднего значения ?ш- Профиль линии сложным образом зависит от причин, вызвавших ее расширение. Это позволяет при прецизионных измерениях находить характер и количественные параметры дефектов и величины кристалликов.

Более подробно с методами определения размеров кристаллитов и областей когерентного рассеяния можно ознакомиться в [22].

 
<<   СОДЕРЖАНИЕ ПОСМОТРЕТЬ ОРИГИНАЛ   >>