Полная версия

Главная arrow Математика, химия, физика arrow ДИФРАКЦИОННЫЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ

  • Увеличить шрифт
  • Уменьшить шрифт


<<   СОДЕРЖАНИЕ ПОСМОТРЕТЬ ОРИГИНАЛ   >>

Электронная микроскопия

В электронной микроскопии изображение получают с помощью электронов, прошедших сквозь объект, либо отраженных от него, либо им испущенных. Электронные пучки формируются электронно-оптическими системами с использованием магнитных или электростатических линз. Изображение фиксируется на люминесцентных экранах, фотопленке или иных чувствительных к электронам детекторах с возможностью запоминания, усиления, вывода на видеосистемы. Основные особенности метода следующие:

  • а) возможность получения особо большого увеличения и высокого разрешения вплоть до атомного при прямом наблюдении объекта;
  • б) прямая электронно-оптическая информация об объекте (изображение) может быть дополнена рядом других данных, основанных на физике взаимодействия электронов с веществом, в частности электронной дифракцией. Кристаллографические и иные характеристики дефектов структуры могут изучаться с помощью анализа дифракционного контраста изображения;
  • в) возможность изучения химического (элементного) состава образца по точкам с помощью спектрального анализа его рентгеновского излучения, возбуждаемого электронным пучком;
  • г) широкие возможности воздействия на объект в процессе наблюдения (нагрев, деформирование, облучение, намагничивание и т.п.). Возможность наблюдения динамики процессов и фиксирования их с помощью видеозаписи;
  • д) возможности наблюдения рельефа поверхности и анализа катодолюминесценции, в особенности в растровой электронной микроскопии.
 
<<   СОДЕРЖАНИЕ ПОСМОТРЕТЬ ОРИГИНАЛ   >>